长时间连续工作，对EGO采集设备来说不是“开机能用”那么简单。样机阶段如果不在电源、散热和存储这三个环节做足验证，后期现场出问题的概率会非常高。很多问题恰恰是连续运行十几个小时甚至几天后才暴露的，比如突然掉电、过热降频、数据写入中断。
先说电源。样机验证不能只看额定功耗，要看实际动态功耗曲线。EGO设备在启动瞬间、写入数据时、以及传感器轮询峰值时段，电流波动可能很大。建议用可编程电子负载模拟真实负载变化，同时监测电压跌落幅度。还要做断电测试，连续运行中随机切断输入，检查设备能否正常关机或者至少不损坏存储介质。如果是电池供电，更要验证充电和放电同时进行时的热积累，以及电池保护板在临界状态下的响应是否可靠。
散热方面，很多样机在实验室25摄氏度环境下跑半天没问题，但一到密闭机箱或者夏季户外，温度就直线上升。验证时要把设备放进尽可能接近实际使用环境的温箱，设定最高工作温度，连续运行至少48小时。重点看主控芯片外壳温度、存储颗粒温度，以及是否有局部热点。用红外热像仪扫一遍PCB，往往能发现某些LDO或电源模块附近温度异常偏高。如果外壳是塑料，还要考虑太阳辐射加热的影响，必要时需要增加散热片或调整通风孔位置。
存储是最容易忽略但后果最严重的环节。连续写入时，主控和存储卡之间的握手协议可能因为电压波动或温度升高而异常，导致数据文件头损坏或写入延迟。样机验证时要用高耐久度工业级存储卡，并连续写入超过整机设计寿命周期，比如标称七天不间断，那就至少跑七天。每隔一小时校验一次写入数据的哈希值，同时记录写入速度变化。如果掉速明显，说明缓存策略或坏块管理有问题。还要做掉电时文件系统修复测试，确保重启后已写入的数据完整可读。
最后，这三个环节不是孤立的。电源发热会加剧散热压力，散热不良又会让存储芯片加速老化，存储频繁出错反过来又增加CPU负载和功耗。样机阶段最好把三种测试交叉进行，比如在最高环境温度下同时做断电冲击和满负荷写入，观察是否出现连锁故障。只有这样测过的设备，才敢真正放到现场去长时间跑。